Chemical characterisation of NIST silicate glass certified reference
material SRM 610 by ICP-MS, TIMS, LIMS, SSMS, INAA, AAS and PIXE

Alexander B.E. Rocholl (1), Klaus Simon (2), Klaus Peter Jochum (3), Frank Bruhn (4)*
Roland Gehann (5), Utz Kramar (5), Werner Luecke (5), Michael Molzahn (3),
Ernst Pernicka (6), Michael Seufert (3), Bernhard Spettel (3) and Jens Stummeier (5)**

(1) Mineralogisches Institut, Universität Heidelberg, Im Neuenheimer Feld 236, D-69120 Heidelberg, Germany. e-mail: rocholl@classic.min.uni-heidelberg.de
(2) Geochemisches Institut, Universität Göttingen, Goldschmidtstrasse 1, D-37077 Göttingen, Germany
(3) Max-Planck-Institut für Chemie, Postfach 3060, D-55099 Mainz, Germany
(4) Institut für Geologie, Ruhr-Universität, Universitätsstrasse 150, D-4487 Bochum, Germany
(5) Institut für Petrographie und Geochemie, Universität Karlsruhe, Kaiserstrasse 12, D-76128 Karlsruhe, Germany
(6) Max-Planck-Institut für Kernphysik, Saupfercheckweg 1, D-69117 Heidelberg, Germany
* Present address: CSIRO Exploration and Mining, PO Box 136, North Ryde, NSW 2113, Australia
** Present address: Bundesanstalt für Geowissenschaften und Rohstoffe, Stilleweg 2, D-30631 Hannover, Germany

Abstract
National Institute of Science and Technology (NIST) silicate glass SRM 610 is widely used as a certified reference material for various micro-analytical techniques such as SIMS or laser ablation ICP-MS. SRM 610 has been nominally doped with sixty one trace elements at the 500 mg/g level, but certified concentration data exist for only a few of these elements. This study reports concentration data for fifty nine trace elements obtained by ICP-MS, SSMS, LIMS, TIMS, INAA, AAS, and PIXE analyses of two different SRM 610 wafers. Most elements fall within a ±10% band around a median value of about 440 mg/g. The REE concentrations are shown to be constant to ±3% (1s), thus emphasizing the value of SRM 610 as a reference material for REE analyses.

Comparison of our values with published data suggests that different SRM 610 wafers are, within errors, chemically identical for most elements. Exceptions to this general rule appear to be re-stricted to elements which were partly lost during the production of the glass, e.g. Ag and Br. On the basis of six independent determinations of Rb concentrations, which are systematically lower by a few percent than the reported NIST value, we argue that the certified Rb concentration may not be representative for all distributed SRM 610 wafers.

Résumé
Le verre silicaté SRM 610 distribué par le "National Institute of Science and Technology" (NIST) est largement utilisé comme matériau de référence certifié pour les techniques de micro-analyse telles que l'analyse par sonde ionique (SIMS) ou par ICP-MS couplée avec ablation laser. Ce verre SRM 610 est dopé avec soixante et un éléments en trace à des concentrations de l'ordre de 500 mg/g, mais les concentrations ne sont certifiées que pour quelques-uns d'entre eux. Cette étude donne les concentrations de cinquante-neuf éléments en trace, concentrations obtenues par analyse ICP-MS, SSMS, TIMS, INAA, AAS et PIXE dans deux pastilles différentes de SRM 610. La concentration de la plupart des élements est, à plus ou moins 10%, de l'ordre de 440 mg/g. Les concentrations en éléments du groupe des terres rares (ETR) sont constantes à ± 3% (1s), ce qui confirme l'intérêt de SRM 610 comme matériau de référence pour l'analyse des ETR.

Une comparaison entre nos données et les données déjà publiées sur d'autres lots de SRM 610 montre que les différentes pastilles de SRM 610 ont la même composition chimique, aux erreurs près. Les seules exceptions à cette règle concernent les éléments tels que Ag et Br, qui sont partiellement, et de façon variable, perdus lors de la fabrication du verre. Enfin, comme les six determinations indépendantes des concentrations en Rb sont systématiquement plus basses de quelques pourcents que la valeur donnée par NIST, nous pensons que cette concentration certifiée en Rb n'est pas valable pour l'ensemble des pastilles de SRM 610 déjà distribuées.

Received 17 Jun 96 - Accepted 07 Feb 97

Geostandards Newsletter: The Journal of Geostandards and Geoanalysis
Vol. 21 No. 1 pp. 101-114 (1997)

Copyright   © Association Scientifique pour la Géologie et ses Applications
Vandoeuvre-lès-Nancy, France.