Pearce et al. Trace element data for NIST SRM 610 and 612

A compilation of new and published major and trace element data
for NIST SRM 610 and NIST SRM 612 glass reference materials

Nicholas J.G. Pearce (1), William T. Perkins (1), John A. Westgate (2), Michael P. Gorton (3), Simon E. Jackson (4), Clive R. Neal (5) and Simon P. Chenery (6)

(1) Institute of Earth Studies, University of Wales, Aberystwyth, SY23 3DB, Wales, U.K.
(2) Physical Sciences Division, Scarborough College, University of Toronto, 1265 Military Trail, Scarborough, Ontario, M1C 1A4, Canada
(3) Department of Geology, Earth Sciences Centre, 22 Russel Street, University of Toronto, Toronto, Ontario, M5S 3B1, Canada
(4) Department of Earth Sciences, Memorial University of Newfoundland, St Johns, Newfoundland, A1B 3X5, Canada
(5) Department of Civil Engineering and Geological Sciences, University of Notre Dame, IN 46556, USA
(6) British Geological Survey, Kingsley Dunham Centre, Keyworth, Nottingham, NG12 5GG, U.K.

Abstract
Microanalytical trace element techniques (such as ion probe or laser ablation ICP-MS) are hampered by a lack of well characterized, homogeneous standards. Two silicate glass reference materials produced by National Institute of Standards and Technology (NIST), NIST SRM 610 and NIST SRM 612, have been shown to be homogeneous and are spiked with up to sixty one trace elements at nominal concentrations of 500 mg/g and 50 mg/g respectively. These samples (supplied as 3 mm wafers) are equivalent to NIST SRM 611 and NIST SRM 613 respectively (which are supplied as 1 mm wafers) and are becoming more widely used as potential microanalytical reference materials. NIST however, only certifies up to eight elements in these glasses. Here we have compiled concentration data from approximately sixty published works for both glasses, and have produced new analyses from our laboratories. Compilations are presented for the matrix composition of these glasses and for fifty eight trace elements. The trace element data includes all available new and published data, and summaries present the overall average and standard deviation, the range, median, geometric mean and a preferred average (which excludes all data outside ± one standard deviation of the overall average). For the elements which have been certified, there is a good agreement between the compiled averages and the NIST data. This compilation is designed to provide useful new working values for these reference materials.

Résumé
Les techniques de micro-analyses d'éléments en trace (par sonde ionique ou ICP-MS avec ablation laser) sont génées par l'absence de standards homogènes et bien caractérisés. Deux verres silicatés de référence, les verres NIST SRM 610 et NIST SRM 612, ont été démontrés homogènes et contiennent jusqu'à soixante et un élements en trace à des concentrations nominales de 500 mg/g ou 50 mg/g respectivement. Ces verres (qui sont fournis sous forme de galette de 3 mm d'épaisseur) sont équivalents aux standards NIST SRM 611 et NIST SRM 613 (qui eux sont fournis sous forme de galettes de 1 mm d'épaisseur) et sont de plus en plus utilisés comme étalon de référence en micro-analyse. Néanmoins, NIST ne certifie que jusqu'à huit éléments dans ces verres. Nous avons donc compilé les données publiées dans environ soixante articles sur ces deux verres et donnons aussi les résultats des analyses faites dans nos laboratoires. Sont compilées les données sur les éléments composant la matrice de ces verres ainsi que sur cinquante-huit élements en trace. La compilation pour les éléments en trace, qui regroupe toutes les données disponibles déjà publiées ou faites récemment, donne en synthèse la valeur moyenne et la déviation standard associée (±), ainsi que la gamme de dispersion, la médiane, la moyenne géométrique et la valeur moyenne recommandée (calculée en excluant les données à plus d'un sigma de la moyenne générale). Pour les élements déjà certifiés par NIST, on remarque le bon accord entre leurs valeurs recommandées et nos moyennes ainsi compilées. Cette compilation fournit donc un ensemble de données à utiliser comme base de travail pour ces matériaux de référence.

Received 21 May 96 - Accepted 17 Dec 96

Geostandards Newsletter: The Journal of Geostandards and Geoanalysis
Vol. 21 No. 1 pp. 115-144 (1997)

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